蘇州英飛思科學儀器有限公司

1號館｜A056

前沿產品

01 EDX8800M MAX

作為一款高性能的立式X射線熒光（EDXRF）材料分析儀，EDX8800M MAX配置了高功率X射線激發系統，同時搭配了高計數率和高分辨率的FSDD探測器，它提供了出色的線性動態范圍，可在金屬、水泥、礦物、采礦、玻璃和陶瓷中實現更高精度的過程和質量控制。

產品特點

1、配備Peltier電制冷的FSDD硅漂移檢測器不僅具有出色的短期重復性和長期重現性，而且具有出色的元素峰分辨率。

2、能同時進行元素和氧化物成分分析。

3、特別設計的光路和真空系統大大提高了輕元素(Na, Mg, Al, Si, P）的測試靈敏度和準確性。可同時選配氦氣系統，實現液體和粉末樣品的直接測試。

4、八種光路準直系統，根據不同樣品大小自動切換，亦可測試樣品不同位置再求平均值，降低樣品不均勻性造成的誤差。

5、高清內置攝像頭，清晰地顯示儀器所檢測的樣品部位。

6、可搭載樣品自旋平臺，增加樣品檢測面積，提高測試準確度和精密度。

02 EDX9000B Plus

EDX9000B plus光譜儀主要應用于采礦作業（勘探、開采、品位控制），工業礦物，生產水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化學學術研究，考古等。EDX9000B plus優異的線性動態范圍，可實現在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業進行超高精度的過程控制和質量控制。

產品特點

1、小型化、高性能、高速度、易操作，Na11-U92高靈敏度、高精度分析。

2、可同時分析40種元素。

3、采用多準直器多濾光片和扣背景專利技術。

4、 Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器提供出色的短期重復性和長期再現性以及出色的元素峰分辨率。

5、超高記數數字多道電路設計，雙真空抽速機構，真空度自動穩定系統。

6、標配基本參數法軟件，多任務，多窗口操作。

7、專利薄膜濾光片技術，有效提高輕元素檢出限。

03 EDX9000B

EDX9000B光譜儀主要應用于在采礦過程的所有階段進行材料元素成分分析。從勘探樣品到礦物精礦，從選礦到尾礦，EDX9000B都在苛刻的采礦環境中均具有出色的靈活性，分析性能和穩定性。專注于對地質材料的主量，微量和痕量元素進行定性和定量分析，其中包括：鐵礦、銅礦、鋁土礦、貴金屬礦產、稀土礦、原料、磷酸鹽、煤炭、鉛鋅礦、錳礦、鎳礦、石灰石、粘土、石膏、玻璃、土壤、水泥、耐火材料等。

產品特點

1、無需或者很少的樣品制備，全程無損分析，一到三分鐘即可出結果。

2、強大的基于Windows的FP(基本參數算法)軟件降低了基體效應的影響。

3、50 kV光管管和電制冷的SDD硅漂移檢測器不僅具有出色的短期重復性和長期重現性，而且具有出色的元素峰分辨率;，能同時進行元素和氧化物成分分析。

4、多重儀器硬件保護系統，并可通過軟件進行全程實時監控，讓儀器工作更穩定、更安全。

04 Compass200

Compass 200能量色散X射線熒光（EDXRF）光譜儀實現了快速、準確分析土壤中的有害金屬元素Pb（鉛），As（砷），Cd（鎘），Hg（汞），Cu（銅），Ni（鎳），Zn（鋅），Cr（鉻）等，能夠實時現場對廠區、礦區、重工業區周邊的環境進行監測，從而進行控制排放和污染治理。

產品特點

1、便攜，堅固，緊湊的設計，輕松實現現場高精度樣品無損檢測

2、友好的軟件界面和一鍵式啟動測試

3、常規分析培訓只需幾分鐘

4、大型8英寸觸摸屏上顯示的直觀界面

5、可選配大容量電池，無需外部供電情況下可實現長時間工作。

05 EDX8000T

鍍層測厚儀 EDX8000T 是將 X 射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次 X 射線的 強度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的 X 射線能量很低，所以不會對樣品造成損壞。同時測量時間短，一般在30秒內完成。

產品特點

1、全新的下照式一體化設計，

2、測試快速，無需樣品制備

3、可通過內置高清 CCD 攝像機來觀察及選擇定位微小面積鍍層厚度的測量，避免直接接觸， 污染或破壞被測物。軟件配備距離補正算法，實現了對不規則樣品（如凹凸面，螺紋，曲面 等）的異型件的精準測試

4、備有多種以上的鍍層厚度測量和成分分析時所需的標準樣品

5、可覆蓋元素周期表 Mg鎂到 U 鈾

6、Si-pin 檢測器，具有高計數范圍和出色的能量分辨率

7、自動切換準直器和濾光片（0.15mm,0.2mm,0.3mm）。

公司簡介

蘇州英飛思科學儀器有限公司專注于XRF光譜儀及配套設備的研發、生產和應用。基于多年的技術積累和沉淀，英飛思擁有整套XRF光譜儀的原生態軟件研發和硬件制造技術，不僅能提供整套光譜儀定制服務，而且能夠提供全方位專業而系統的元素成分分析及鍍層測厚的解決方案，以滿足客戶日益嚴苛而高標準的測試需求。